-快速滿足復雜的 SoC 測試應用需求

-Chroma 3680全方位高精度 / 高效能 SoC 測試系統，可提供高達2048個 I/O 通道、數位通道速率 (data rate) 最高可達1Gbps、最高512個并行測試的能力及512M Word 測試資料記憶體深度，以提供最低的測試成本且滿足復雜 SoC 的測試應用需求。應用范圍包含微控制器 (MCU)、數位音訊、數位電視、機頂盒、數位信號處理器 (DSP)、網路處理器 (Network Processor)、現場可程式邏輯門陣列 (FPGA) 及消費性電子 IC 應用市場等測試方案。

HDAVO(High Density Audio Video Option) 高性能混和訊號解決方案，為 Chroma 3680的選購模組，擁有可同時輸出的8個差動源模組 (AWG) 和同時接收的8個差動測量模組 (DGT)，且在每一個差動源模組(AWG)上能提供高達400Msps 的取樣頻率和在每一個差動測量模組(DGT)上能提供高達250Msps 的取樣頻率，具有高規格、低成本和多功能等優勢，適用于標準的基頻、視訊、音訊、圖形、STB以及 DTV 等廣泛的混合訊號測試應用。

搭配于3680上所開發的 CRISPro 軟體套件，讓使用者可以用圖形化介面 (GUI) 或程式語言做測試程式的開發，加上支援可同時測試 (Concurrent Testing) 的功能，以降低測試程式的時間，加快產品的量產速度。

經濟且彈性高之完整 ATE 測試功能

Chroma 3380為一經濟且彈性極高之 ATE 自動測試系統，最高可以提供1,280通道，速率最高可達100Mbps、并提供1024個并行測試能力。不僅具有多樣性模擬 (analog) 信號的儀器板卡可供選擇，更具備各種常見 ATE 系統之轉換軟件與硬件模塊，讓轉移平臺快速方便，降低整體測試成本 (COT)。此外，3380可以完整整合射頻測試儀 MP5806。同時支持 Direct Mount 和 Cable Mount 的測試方案，擁有4/8 RF Port 及120MHz 頻寬，涵蓋6GHz 范圍內的無線測試規范，應用范圍包含 Wi-Fi/ BT/ GNSS/ Tuner/ NB-IoT/ LoRa 等無線通訊與 IoT 應用及 RF 元件測試 (PA/LNA/Converter 等 )，提供 RF/Digital 全方位 ATE(CP/FT/SLT) 測試解決方案。

Chroma 33010 PXIe 架構之自動測試系統 (ATE)，具完整 ATE 功能，對于價格更敏感的客戶，提供符合未來 PXI 測試方案發展應用之趨勢及需求，以因應未來更小 IC 通道及愈趨復雜功能之趨勢，尤其在 IoT 及車用感測 IC 測試上，PXI/PXIe 架構在半導體測試無論在應用多變和彈性上具有優勢。應用范圍包含微控制器、微機電 (MEMS) 感測器、射頻 IC(RF IC) 及電源 IC (PMIC) 等測試方案。

全溫度控制范圍，確保IC最終品質

Chroma 3110S 雙用型單測頭的 Pick & Place 測試分類機，支援各種不同類型封裝晶片，如 BGA、μBGA、QFP 系列、QFN、Flip-Chip 與 TSOP 等，并可支援至120mm 封裝尺寸。內建全溫度范圍控制模組(Full range Thermal Control Unit)，可提供高功率主動式溫控系統 (High Power Cooling ATC)，溫度范圍零下攝氏40度 ~ 攝氏150度 (+/-攝氏3度) 選配高規格溫控器可達零下攝氏55度 ~ 攝氏175度 (+/-攝氏3度) 的溫控能力，并支援壓測力量220Kgf 的特殊需求，符合各類產品線綜合應用，絕對是工程驗證和小批量量產的理想設備。