突破性技術(shù)利用行業(yè)金牌時(shí)序Signoff和機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)加速統(tǒng)計(jì)良率分析，重新定義設(shè)計(jì)Signoff
重點(diǎn)：
獲得專(zhuān)利的全芯片級(jí)參數(shù)化設(shè)計(jì)良率分析提供準(zhǔn)確的統(tǒng)計(jì)良率，比蒙特卡羅靜態(tài)時(shí)序分析的性能快1000多倍
特有的設(shè)計(jì)穩(wěn)健性分析和優(yōu)化，可在投片前識(shí)別和修復(fù)良率熱點(diǎn)
創(chuàng)新、智能的路徑仿真，具有真正的 HSPICE 精度，比傳統(tǒng)蒙特卡羅仿真速度快100至1000倍
新思科技（Synopsys, Inc., 納斯達(dá)克股票代碼：SNPS）近日宣布推出其 PrimeYield? 解決方案，這是獲得專(zhuān)利的快速統(tǒng)計(jì)方法和先進(jìn)的機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)加速支持的投片前設(shè)計(jì)良率分析的一項(xiàng)突破。它提供比現(xiàn)有解決方案快1000多倍的設(shè)計(jì)良率分析和優(yōu)化，可擴(kuò)展到具有數(shù)十億晶體管的量產(chǎn)系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC），使 SoC 設(shè)計(jì)者能夠?qū)⒃O(shè)計(jì)良率優(yōu)化左移至投片前的設(shè)計(jì)階段。
VLSI Research 董事長(zhǎng)兼首席執(zhí)行官 Dan Hutcheson 表示：“在投片前的設(shè)計(jì)階段識(shí)別和修復(fù)良率熱點(diǎn)的能力是一大突破。在試生產(chǎn)前左移設(shè)計(jì)良率優(yōu)化，而無(wú)需完全的蒙特卡羅統(tǒng)計(jì)仿真，大大降低了非經(jīng)常性工程成本，提高了生產(chǎn)率，更重要的是縮短了新設(shè)計(jì)即時(shí)變現(xiàn)的時(shí)間。”
PrimeYield 的創(chuàng)新型快速統(tǒng)計(jì)引擎獨(dú)特地利用了新思科技的黃金標(biāo)準(zhǔn) PrimeTime® Signoff 和 HSPICE® 仿真工具的核心引擎，使用機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)克服了以前因周轉(zhuǎn)時(shí)間長(zhǎng)而無(wú)法進(jìn)行全面的投片前良率統(tǒng)計(jì)分析的挑戰(zhàn)，從而能夠?qū)θ魏纬叽绲脑O(shè)計(jì)進(jìn)行投片前設(shè)計(jì)良率分析和優(yōu)化。將良率作為第四個(gè)設(shè)計(jì)質(zhì)量指標(biāo)，現(xiàn)在包括 PPA-Y （功耗、性能、面積和良率），新思科技 Fusion Design Platform? 可以提供速度更快、功耗更低、成本效益更高的硅芯片設(shè)計(jì)。
在機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)的加速下，PrimeYield 在幾分鐘內(nèi)以真正的 HSPICE 精度對(duì)關(guān)鍵時(shí)序路徑進(jìn)行了快速的蒙特卡羅統(tǒng)計(jì)仿真，而不是花費(fèi)完全統(tǒng)計(jì)仿真所需的數(shù)天或數(shù)周。它基于統(tǒng)計(jì)相關(guān)模型的專(zhuān)利參數(shù)化良率分析，支持對(duì)有數(shù)十億個(gè)單元的大規(guī)模 SoC 進(jìn)行真正的統(tǒng)計(jì)良率分析和優(yōu)化，這一分析以前只適用于幾十個(gè)單元。
PrimeYield 能夠快速識(shí)別和驅(qū)動(dòng)對(duì)影響良率單元的優(yōu)化，這些影響源自統(tǒng)計(jì)相關(guān)性和對(duì)各種設(shè)計(jì)變化（如供電電壓下降或制造變異性）的敏感性，同時(shí) PrimeYield 使用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)輸入可立即進(jìn)行部署。
新思科技芯片設(shè)計(jì)事業(yè)部工程高級(jí)副總裁 Jacob Avidan 表示：“新思科技與客戶(hù)密切合作的歷史悠久，持續(xù)推動(dòng)技術(shù)創(chuàng)新，以應(yīng)對(duì) SoC 設(shè)計(jì)日益增長(zhǎng)的挑戰(zhàn)。PrimeYield 的推出代表一種新型良率分析方法，左移設(shè)計(jì)良率優(yōu)化并降低制造費(fèi)用。”
通過(guò)推出 PrimeYield，新思科技鞏固了其在半導(dǎo)體良率分析方面的強(qiáng)大領(lǐng)導(dǎo)地位，從 Yield Explorer® 投片后良率分析和管理到投片前統(tǒng)計(jì)良率分析和優(yōu)化，提供解決方案，加速可預(yù)測(cè)的客戶(hù)成功。
