MPI推出了一款新的 NoiseShield?產品，選配此產品可提供卓越的 EMI 屏蔽功能、低接地阻抗和最短的電纜長度，來減少寄生電容可大幅將測試系統的 roll-off 頻率最大化。透過此選配可減少外部磁場對量測結果的影響，并使1/f 和RTN雜訊量測更加安定，不受放置場所的影響。此外，它還使探針臺所造成的影響“隱形”，使量測結果達到測試儀器的測試值極限。
MPI 先進半導體測試事業部元件建模總監 Toe Naing Swe 表示：“MPI NoiseShield?是提供1/f 量測高價值解決方案的下一步。結合使用 MPI ShielDEnvironment?，使用者可以體驗待測物 (DUT) 和測量儀器（如 ProPlus 9812DX 的前置放大器）、所有電纜和連接器的優越 EMI 屏蔽功能。這種完全整合的解決方案透過將低雜訊放大器 (LNA) 置于非常靠近 DUT 的位置，以縮短電纜的長度。透過配備 MPI WaferWallet®模塊的 TS3500-SE全自動探針臺，使用者可以 on-wafer 進行完全自動化的1/f 雜訊量測。MPI SENTIOR® 軟體套件提供 ProPlus Design Solutions 產品所需的驅動程式，如 BSIMProPlus?和NoiseProPlus?，使自動化測試系統的組成更為容易。”
ProPlus Design Solutions Inc 首席執行長兼聯合創始人劉志宏博士說：“MPI 探針臺功能卓越，是我使用過數一數二的探針臺。在雜訊量測方面，它擁有優秀屏蔽功能并大幅減少寄生電容。憑借這款產品，我們能夠在不降低系統性能的前提下發揮系統的極限。利用9812DX 中的高精度 LNA，我們能夠以大于20KHz 的頻寬獲得3e-27 A^2/Hz 的 noise floor，同時可以精確地監測到 pA 等級的偏低電流。低頻測量上可到0.1Hz，而不受機械振動的影響。藉由 MPI 探針臺，我們對金氧半場效電晶體 (MOSFET) 量測到10MHz，雜訊準位達到了我們的寬頻 LNA 的 noise floor。”
