具有20多年歷史的NIWeek被稱為圖形化系統設計領域的全球盛會，很受人們關注。而今年NIWeek已于8月4日-6日舉行，其主辦方美國國家儀器公司（簡稱NI）這次將地址選在奧斯汀，并邀請了3200多名權威人士出席見證NI在物聯網方向上的發展。
此次 NIWeek的定位是工業物聯網，在會上NI介紹了對物聯網發展影響比較大的技術和目前存在的挑戰，并發布了針對這些問題而研發出的最新解決方案和軟硬件產品。
* I/O（RIO）架構的全新嵌入式系統硬件
這種硬件適用于開放靈活的LabVIEW環境下，具有可以實現重新配置的特點。它具有三個控制器：第一個是高性能CompactRIO控制器，它的系統牢固可靠，能夠應對比較惡劣的環境；第二個是FlexRIO控制器，它能夠應用在高性能嵌入式結構當中，具有易于攜帶的特點；第三個是Single-Board RIO控制器，它的優勢體現在提高嵌入式應用的靈活性方面。這三個控制器功能強大、相輔相成，可以接受最嚴峻的控制和檢測挑戰。它們以SELinux系統為基礎，支持LabVIEW軟件、LabVIEW FPGA模塊和NI Linux Real-Time的運行，為工業物聯網應用提供了高級的安全功能。
*全新無線測試系統（簡稱WTS）
WTS結合了最新的PXI硬件，統一了各個標準和端口，并結合TestStand無線測試模塊等靈活的測試序列生成軟件，提高了儀器利用效率。除此之外，它還易于投入使用，而且它的測試序列能做到立即運行，使具有Qualcomm和Broadcom芯片的設備、集成式DUT和遠程自動化控制更快完成測試。利用這些特點，RF測試設備的效率將得到大幅提升，從而達到降低測試成本的目的。
*全新CompactDAQ硬件和DIAdem 2015軟件
CompactDAQ控制器分為4槽和8槽兩種，擁有Intel Atom E3845四核處理器，能兼容Windows Embedded 7或NI Linux Real- Time這兩種操作系統。它的接口使用的是全新USB3.0，在不影響速度的情況下可增加測量系統的通道。DIAdem 2015 64位軟件可讓用戶加載和分析比以往更多的數據，幫助工程是解決大數據所帶來的挑戰。
*最新LabVIEW 2015系統級設計軟件
升級后的LabVIEW在開發方式和調試工具等方面均有提高，使用起來更加的方便快捷。另外用戶還可以通過它來快速學習軟件設計方法，是人們能夠開發處更強大高效的系統。
如果上述幾種產品能夠投入使用，相信會對智能測量、智能測試系統、智能電網、智能機器和智能發電這五大領域產生巨大的影響。
NI領導人表示公司會繼續為客戶提供可靠的智能解決方案來迎接物聯網所帶來的機遇與挑戰。
